Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption (Withdrawn 1989)
Available languages: English
Available design: Online Secure PDF
Designation: ASTM F121-83
Pages: 0
Note: Withdrawn
Country: American technical standard