Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption (Withdrawn 1989)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF
Označenie: ASTM F121-83
Stránok: 0
Poznámka: Neplatné
Krajina: Americká technická norma