Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Total Mass Loss of Materials and Condensation of Outgassed Volatiles on Microelectronics-Related Substrates (Withdrawn 2000)
Available languages: English
Available design: Online Secure PDF
Designation: ASTM F1227-89(1999)
Publication date: 10/04/1999
Pages: 6
Note: Withdrawn
Country: American technical standard