Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test Method for Total Mass Loss of Materials and Condensation of Outgassed Volatiles on Microelectronics-Related Substrates (Withdrawn 2000)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF
Označení: ASTM F1227-89(1999)
Datum vydání: 10.04.1999
Stran: 6
Poznámka: Neplatná
Země: Americká technická norma