Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures.
Available languages: English
Available design: PDF - Immediate download, Print design
Designation: BS EN 62047-13:2012
Publication date: 31/05/2012
Pages: 18
Country: British technical standard