ČSN EN 60749-34-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 16.20 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN 60749-34-ed.2

Publication date: 01/09/2011

Pages: 24

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato norma popisuje zkušební metodu, která se používá pro stanovení odolnosti polovodičové součástky vůči tepelnému a mechanickému namáhání při cyklování. Tepelné namáhání je způsobeno vyzařováním tepla z polovodičového čipu a vnitřních spojení. Toto nastává, pokud jsou periodicky aplikovány budicí proudy tekoucí v propustném směru (zatěžovací proudy). Tyto proudy způsobují podstatné změny teploty. Účelem výkonové cyklické zkoušky je simulovat typické aplikace při používání ve výkonové elektronice a zkouška je doplňkem k životnosti při vysoké teplotě (viz. IEC 60749-23). Realizace této zkoušky nemusí vyvolávat stejné poruchové mechanismy jako teplotní cyklování vzduch-vzduch, anebo rychlou změnou teploty, kterou používá metoda použití lázně s dvěma kapalinami. Tato zkouška způsobí opotřebení a je považována za destruktivní.
POZNÁMKA: Záměrem této specifikace není stanovit prognózy pro model životnosti

Popular Publishers

full catalog