ČSN EN 60749-34-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

od 14.00 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ČSN EN 60749-34-ed.2

Dátum vydania: 01.09.2011

Stránok: 24

Krajina: Česká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Tato norma popisuje zkušební metodu, která se používá pro stanovení odolnosti polovodičové součástky vůči tepelnému a mechanickému namáhání při cyklování. Tepelné namáhání je způsobeno vyzařováním tepla z polovodičového čipu a vnitřních spojení. Toto nastává, pokud jsou periodicky aplikovány budicí proudy tekoucí v propustném směru (zatěžovací proudy). Tyto proudy způsobují podstatné změny teploty. Účelem výkonové cyklické zkoušky je simulovat typické aplikace při používání ve výkonové elektronice a zkouška je doplňkem k životnosti při vysoké teplotě (viz. IEC 60749-23). Realizace této zkoušky nemusí vyvolávat stejné poruchové mechanismy jako teplotní cyklování vzduch-vzduch, anebo rychlou změnou teploty, kterou používá metoda použití lázně s dvěma kapalinami. Tato zkouška způsobí opotřebení a je považována za destruktivní.
POZNÁMKA: Záměrem této specifikace není stanovit prognózy pro model životnosti

Populárna vydavatelia

celý katalóg