Active standard | Published: 01/12/2003

ČSN EN 60749-36

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 10.70 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN 60749-36

Publication date: 01/12/2003

Pages: 16

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato část IEC 60749 používá zkoušku k určení vlivů stálého zrychlení na typy polovodičových součástek s dutinou. Je to zrychlená zkouška, navržená ke zjištění typů strukturálních a mechanických slabin, které jsou ne vždy zjistitelné zkouškou údery a vibracemi. Tato zkouška se může použít jako zkouška s vysokým namáháním (destruktivní), k určení mechanických mezí pouzdra, vnitřního pokovení a systému přívodů, připevnění čipu nebo podložky a dalších prvků mikroelektronické součástky. Když byly stanoveny meze vlastního namáhání, může se tato zkušební metoda využít jako nedestruktivní přímé stoprocentní třídění ke zjištění a vyřazení součástek, s nižší mechanickou pevností než je obvyklá, v kterémkoliv strukturálním prvku. Obecně je zkušební metoda stálým zrychlením v souladu s IEC 60068-2-7, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.

Popular Publishers

full catalog