Aktívna norma | Vydaná: 01.12.2003

ČSN EN 60749-36

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

od 9.20 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ČSN EN 60749-36

Dátum vydania: 01.12.2003

Stránok: 16

Krajina: Česká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Tato část IEC 60749 používá zkoušku k určení vlivů stálého zrychlení na typy polovodičových součástek s dutinou. Je to zrychlená zkouška, navržená ke zjištění typů strukturálních a mechanických slabin, které jsou ne vždy zjistitelné zkouškou údery a vibracemi. Tato zkouška se může použít jako zkouška s vysokým namáháním (destruktivní), k určení mechanických mezí pouzdra, vnitřního pokovení a systému přívodů, připevnění čipu nebo podložky a dalších prvků mikroelektronické součástky. Když byly stanoveny meze vlastního namáhání, může se tato zkušební metoda využít jako nedestruktivní přímé stoprocentní třídění ke zjištění a vyřazení součástek, s nižší mechanickou pevností než je obvyklá, v kterémkoliv strukturálním prvku. Obecně je zkušební metoda stálým zrychlením v souladu s IEC 60068-2-7, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.

Populárna vydavatelia

celý katalóg