Active standard | Published: 01/10/2008

ČSN EN 60749-38

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 10.70 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN 60749-38

Publication date: 01/10/2008

Pages: 20

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato část normy popisuje postup měření výskytu občasných chyb polovodičových součástek s pamětí, které jsou vystaveny částicím s vysokou energií, jako je alfa záření. Jsou popsány dvě zkoušky; zrychlená zkouška používá zdroj záření alfa a (neurychlovaná) zkouška systému v reálném čase, kde libovolné chyby jsou generovány za podmínek přirozeného výskytu záření, což může být alfa záření a jiná záření, například neutronová. Pro úplné popsání výskytu občasných chyb integrovaných obvodů s pamětí musí být součástka zkoušena pro široké spektrum částic s vysokých energií a tepelných neutronů a musí se použít další zkušební metody. Tato zkušební metoda může být použita pro libovolný typ integrovaného obvodu s pamětí.

Popular Publishers

full catalog