Aktívna norma | Vydaná: 01.10.2008

ČSN EN 60749-38

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

od 9.20 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ČSN EN 60749-38

Dátum vydania: 01.10.2008

Stránok: 20

Krajina: Česká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Tato část normy popisuje postup měření výskytu občasných chyb polovodičových součástek s pamětí, které jsou vystaveny částicím s vysokou energií, jako je alfa záření. Jsou popsány dvě zkoušky; zrychlená zkouška používá zdroj záření alfa a (neurychlovaná) zkouška systému v reálném čase, kde libovolné chyby jsou generovány za podmínek přirozeného výskytu záření, což může být alfa záření a jiná záření, například neutronová. Pro úplné popsání výskytu občasných chyb integrovaných obvodů s pamětí musí být součástka zkoušena pro široké spektrum částic s vysokých energií a tepelných neutronů a musí se použít další zkušební metody. Tato zkušební metoda může být použita pro libovolný typ integrovaného obvodu s pamětí.

Populárna vydavatelia

celý katalóg