Active standard | Published: 01/03/2007

ČSN EN 62373

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 14.50 EUR show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN 62373

Publication date: 01/03/2007

Pages: 32

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou.
Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí.
Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.

Popular Publishers

full catalog