Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/05/2008
ČSN EN 62374
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Available languages: English (the title page in Czech only)
Available design: Print design
from 20.90 USD
show on eshop
Detail information
Designation: ČSN EN 62374
Publication date: 01/05/2008
Pages: 48
Country: Czech technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
Norma stanovuje metodu pro zkoušení časově závislého průrazu dielektrika hradel (TDDB) a odhad tržní životnosti hradel podle výsledků této zkoušky.Popular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
