Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 01.05.2008
ČSN EN 62374
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
od 17.90 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ČSN EN 62374
Dátum vydania: 01.05.2008
Stránok: 48
Krajina: Česká technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skAnotácia
Norma stanovuje metodu pro zkoušení časově závislého průrazu dielektrika hradel (TDDB) a odhad tržní životnosti hradel podle výsledků této zkoušky.Populárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
