ČSN EN IEC 60749-17-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 10.70 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN IEC 60749-17-ed.2

Publication date: 01/11/2019

Pages: 16

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Zkouška neutronovým zářením se provádí, aby se určila citlivost polovodičových součástek na degradaci vlivem neionizující ztráty energie (NIEL). Zkouška, která je zde popisována, je vhodná pro integrované obvody a diskrétní polovodičové součástky. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Je to destruktivní zkouška.
Cíle zkoušky jsou tyto:
a) zjistit a změřit degradaci kritických parametrů polovodičové součástky, jako funkci působení proudu neutronů, a
b) určit, jestli stanovené parametry polovodičové součástky jsou ve stanovených mezích po vystavení účinku proudu neutronů stanovené úrovně (viz kapitola 6)

Popular Publishers

full catalog