ČSN EN IEC 60749-17-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

od 9.20 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ČSN EN IEC 60749-17-ed.2

Dátum vydania: 01.11.2019

Stránok: 16

Krajina: Česká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Zkouška neutronovým zářením se provádí, aby se určila citlivost polovodičových součástek na degradaci vlivem neionizující ztráty energie (NIEL). Zkouška, která je zde popisována, je vhodná pro integrované obvody a diskrétní polovodičové součástky. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Je to destruktivní zkouška.
Cíle zkoušky jsou tyto:
a) zjistit a změřit degradaci kritických parametrů polovodičové součástky, jako funkci působení proudu neutronů, a
b) určit, jestli stanovené parametry polovodičové součástky jsou ve stanovených mezích po vystavení účinku proudu neutronů stanovené úrovně (viz kapitola 6)

Populárna vydavatelia

celý katalóg