ČSN EN IEC 60749-18-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Available languages: English (the title page in Czech only)

Available design: Print design

from 16.80 USD show on eshop

Detail information

Designation: ČSN EN IEC 60749-18-ed.2

Publication date: 01/12/2019

Pages: 32

Country: Czech technical standard

Where to buy?

You can buy at www.mystandards.biz

Anotation

Tato norma stanoví zkušební postup na definování požadavků pro zkoušení zapouzdřených polovodičových integrovaných obvodů a diskrétních polovodičových součástek na účinky ionizujícího záření (celkovou dávkou) ze zdroje gama paprsku kobaltu-60 (60Co). Mohou se použít i jiné vhodné zdroje záření.
Uvádí čtyři zkoušky, které jsou uvedeny v tomto postupu:
a) standardní zkouška ozářením při pokojové teplotě;
b) zkouška ozářením při zvýšené/kryogenní teplotě;
c) zrychlená zkoušku žíháním;
d) rozšířená citlivostní zkouška při nízké intenzitě dávky (ELDRS).
Norma je určena pouze pro ustálená záření a nelze ji použít pro pulsní typy záření. Je určena pro vojenské a kosmické účely.
Zkoušky podle této normy mohou vytvářet závažné degradace elektrických vlastností ozařovaných součástek, proto jsou tyto zkoušky považovány za destruktivní

Popular Publishers

full catalog