ČSN EN IEC 60749-18-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

od 14.50 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ČSN EN IEC 60749-18-ed.2

Dátum vydania: 01.12.2019

Stránok: 32

Krajina: Česká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Tato norma stanoví zkušební postup na definování požadavků pro zkoušení zapouzdřených polovodičových integrovaných obvodů a diskrétních polovodičových součástek na účinky ionizujícího záření (celkovou dávkou) ze zdroje gama paprsku kobaltu-60 (60Co). Mohou se použít i jiné vhodné zdroje záření.
Uvádí čtyři zkoušky, které jsou uvedeny v tomto postupu:
a) standardní zkouška ozářením při pokojové teplotě;
b) zkouška ozářením při zvýšené/kryogenní teplotě;
c) zrychlená zkoušku žíháním;
d) rozšířená citlivostní zkouška při nízké intenzitě dávky (ELDRS).
Norma je určena pouze pro ustálená záření a nelze ji použít pro pulsní typy záření. Je určena pro vojenské a kosmické účely.
Zkoušky podle této normy mohou vytvářet závažné degradace elektrických vlastností ozařovaných součástek, proto jsou tyto zkoušky považovány za destruktivní

Populárna vydavatelia

celý katalóg