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Active standard | Published: 01/10/2009
DIN 50455-1:2009-10
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for characterizing photoresists - Part 1: Determination of coating thickness with optical methods.
(Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 1: Bestimmung der Schichtdicke mit optischen Messverfahren.)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
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Detail information
Designation: DIN 50455-1:2009-10
Publication date: 01/10/2009
Pages: 8
Country: German technical standard
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