Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Active standard | Published: 01/02/2008
DIN EN 62374:2008-02
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
(Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
from 105.40 EUR
show on eshop
Detail information
Designation: DIN EN 62374:2008-02
Publication date: 01/02/2008
Pages: 24
Country: German technical standard
Where to buy?
You can buy at www.mystandards.bizAnotation
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten.Popular Publishers
DIN standards
BS standards
ASTM standards
ISO standards
IEC standards
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
