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Active standard | Published: 01/03/2023
DIN EN IEC 60749-41:2023-03
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen.)
Available languages: German
Available design: PDF - Immediate download, Print design
from 111.40 EUR
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Detail information
Designation: DIN EN IEC 60749-41:2023-03
Publication date: 01/03/2023
Pages: 26
Country: German technical standard
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