Aktivní norma | Vydána: 01.03.2023

DIN EN IEC 60749-41:2023-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 41: Standardní metody zkoušení spolehlivosti paměťových součástek nezávislých na napájení..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 111.40 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: DIN EN IEC 60749-41:2023-03

Datum vydání: 01.03.2023

Stran: 26

Země: Německá technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen.

Populární vydavatelé

celý katalog