Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
Available languages: English, Chinese
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: GB/T 41805-2022
Publication date: 12/10/2022
Pages: 0
Country: Chinese technical standard