Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
Dostupné jazyky: Anglicky a čínsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: GB/T 41805-2022
Datum vydání: 12.10.2022
Stran: 0
Země: Čínská technická norma