Active standard | Published: 29/03/2007

IEC 62374-ed.1.0

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille)

Available languages: English and French

Available design: electronic design (pdf), Print design, CD-ROM

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Detail information

Designation: IEC 62374-ed.1.0

Publication date: 29/03/2007

Pages: 43

Country: International technical standard

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Anotation

Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure Cette norme decrit une methode d essai de la rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille des dispositifs a semiconducteurs et une methode d estimation de la duree de vie de produit en presence d unedefaillance de type TDDB.

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