Aktívna norma | Vydaná: 29.03.2007

IEC 62374-ed.1.0

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille)

Dostupné jazyky: Anglicky a francúzsky

Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené, CD-ROM

od 237.90 USD zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: IEC 62374-ed.1.0

Dátum vydania: 29.03.2007

Stránok: 43

Krajina: Medzinárodná technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure Cette norme decrit une methode d essai de la rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille des dispositifs a semiconducteurs et une methode d estimation de la duree de vie de produit en presence d unedefaillance de type TDDB.

Populárna vydavatelia

celý katalóg