Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
(Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Répétabilité et constance de l´échelle des intensités relatives en spectrométrie statique de masse des ions secondaires)
Available languages: English, French
Available design: electronic design (pdf), Print design
Designation: ISO 23830:2008
Publication date: 05/11/2008
Pages: 12
Country: International technical standard