Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
(Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Répétabilité et constance de l´échelle des intensités relatives en spectrométrie statique de masse des ions secondaires)
Dostupné jazyky: Anglicky, Francouzsky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné
Označení: ISO 23830:2008
Datum vydání: 05.11.2008
Stran: 12
Země: Mezinárodní technická norma