Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure
Available languages: English
Available design: Print design
Designation: STN EN 60749-2
Publication date: 01/02/2003
Pages: 3
Country: Slovak technical standard