Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 2: Low air pressure
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 60749-2
Dátum vydania: 01.02.2003
Stránok: 3
Krajina: Slovenská technická norma