Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
Available languages: English
Available design: Print design
Designation: STN EN 60749-23:2004/A1
Publication date: 01/06/2011
Pages: 0
Note: Change
Country: Slovak technical standard