Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 60749-23:2004/A1
Dátum vydania: 01.06.2011
Stránok: 0
Poznámka: Change
Krajina: Slovenská technická norma