Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Available languages: English
Available design: Print design
Designation: STN EN 60749-35
Publication date: 01/06/2007
Pages: 28
Country: Slovak technical standard