Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Označenie: STN EN 60749-35
Dátum vydania: 01.06.2007
Stránok: 28
Krajina: Slovenská technická norma