Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
BS - Britské národní normy
Stránka 3674
BS EN 60749-22:2003 (04.07.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Bond strength.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 267.70 EUR viac informácií
BS EN 60749-23:2004+A1:2011 (30.06.2011)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 163.90 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-23:2026 (03.02.2026)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 163.90 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-23:2026-TC (12.02.2026)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 230.80 EUR viac informácií
BS EN 60749-24:2004 (24.06.2004)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 163.90 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-24:2026 (21.01.2026)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 191.60 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-24:2026-TC (02.02.2026)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 270.10 EUR viac informácií
BS EN 60749-25:2003 (30.10.2003)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Temperature cycling.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 191.60 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-26:2018 (30.04.2018)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
od 371.60 EUR viac informácií
BS EN IEC 60749-26:2018-TC (27.02.2020)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 521.70 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
