BS - Britské národní normy

Strana 3674

91197 nalezených produktů
Seřadit podle:
  • relevance
    • relevance
    • datum (nejnovější)
    • datum (nejstarší)
BS EN 60749-22:2003 (4.7.2003)

BS EN 60749-22:2003 (04.07.2003)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Bond strength.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 22: Pevnost spoje. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 300.40 USD více informací
BS EN 60749-23:2004+A1:2011 (30.6.2011)

BS EN 60749-23:2004+A1:2011 (30.06.2011)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 183.80 USD více informací
BS EN IEC 60749-23:2026 (3.2.2026)

BS EN IEC 60749-23:2026 (03.02.2026)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 183.80 USD více informací
BS EN IEC 60749-23:2026-TC (12.2.2026)

BS EN IEC 60749-23:2026-TC (12.02.2026)

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 259.00 USD více informací
BS EN 60749-24:2004 (24.6.2004)

BS EN 60749-24:2004 (24.06.2004)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 24: Zrychlená zkouška odolnosti proti vlhkosti - HAST bez předpětí. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 183.80 USD více informací
BS EN IEC 60749-24:2026 (21.1.2026)

BS EN IEC 60749-24:2026 (21.01.2026)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 214.90 USD více informací
BS EN IEC 60749-24:2026-TC (2.2.2026)

BS EN IEC 60749-24:2026-TC (02.02.2026)

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 303.10 USD více informací
BS EN 60749-25:2003 (30.10.2003)

BS EN 60749-25:2003 (30.10.2003)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Temperature cycling.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 25: Teplotní cykly. )

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 214.90 USD více informací
BS EN IEC 60749-26:2018 (30.4.2018)

BS EN IEC 60749-26:2018 (30.04.2018)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

od 416.90 USD více informací
BS EN IEC 60749-26:2018-TC (27.2.2020)

BS EN IEC 60749-26:2018-TC (27.02.2020)

Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné

od 585.30 USD více informací
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.