Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Strana 3674
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Bond strength.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 22: Pevnost spoje. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. High temperature operating life.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 24: Zrychlená zkouška odolnosti proti vlhkosti - HAST bez předpětí. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Accelerated moisture resistance. Unbiased HAST.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Temperature cycling.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 25: Teplotní cykly. )
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Human body model (HBM).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné provedení: Elektronické PDF, Tištěné