Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 4081
Medical devices. Application of usability engineering to medical devices.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Audio/video, information and communication technology equipment. Safety requirements.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Audio/video, information and communication technology equipment. Safety requirements.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Audio/video, information and communication technology equipment. Safety aspects for DC power transfer through communication cables and ports.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Evaluation of human exposure to electromagnetic fields from short range devices (SRDs) in various applications over the frequency range 0 GHz to 300 GHz. Fields produced by devices used for electronic article surveillance, radio frequency identification and similar systems.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Adhesives. Wood-to-wood adhesive bonds. Determination of shear strength by tensile loading.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Tracked Changes. Adhesives. Wood-to-wood adhesive bonds. Determination of shear strength by tensile loading.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
Nuclear instrumentation. Housed scintillators. Test methods of light output and intrinsic resolution.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). Fast BTI test for MOSFET.
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: PDF - okamžité stiahnutie, Tlačené