Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 3336
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 9: Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 3: Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the parallel capacitance Co
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Dostupné prevedenie: Tlačené