Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 3337
Guide to the measurement of equivalent electrical parameters of quartz crystal units
Dostupné jazyky: Len český predhovor
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 3: Frequency aging test methods
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4 : Short-term frequency stability test methods
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use
Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)
Dostupné prevedenie: Tlačené
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification
Dostupné prevedenie: Tlačené
Surface Acoustic Wave (SAW) and Bulk Acoustic Wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use
Dostupné prevedenie: Tlačené
Surface Acoustic Wave (SAW) and Bulk Acoustic Wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use
Dostupné prevedenie: Tlačené