ČSN - České národní normy

Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 2: Characterization of interfacing performances

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 3: Functional type and its operational conditions

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

Směšovací a detekční polovodičové diody UKV. Metody měření elektrických parametrů.

Dostupné prevedenie: Tlačené

Thermal standardization on semiconductor packages - Part 3: Thermal circuit simulation models of discrete semiconductor packages for transient analysis

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

Tepelná normalizace polovodičových pouzder - Část 6: Model tepelného odporu a kapacity pro předpověď přechodové teploty v místech spojení a měření. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

Semiconductor devices - Semiconductor devices for wireless power transfer and charging - Part 1: General requirements and specifications

Dostupné jazyky: Anglicky (v českom jazyku len titulná strana)

Dostupné prevedenie: Tlačené

Měření polovodičových součástek. Varikapy. Měření teplotního koeficientu kapacity.

Dostupné prevedenie: Tlačené

Varikapy. Metody měření elektrických parametrů.

Dostupné prevedenie: Tlačené