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ČSN - Tschechische nationale Normen
Seite 3360
ČSN EN 62779-2 (01.10.2016)
Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 2: Characterization of interfacing performances
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ČSN EN 62779-3 (01.12.2016)
Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 3: Functional type and its operational conditions
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ČSN EN IEC 63287-1 (01.04.2022)
Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
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ČSN EN IEC 63287-2 (01.12.2023)
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile
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ČSN 358781 (25.04.1983) Ungültige
Směšovací a detekční polovodičové diody UKV. Metody měření elektrických parametrů.
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ČSN EN IEC 63378-3 (01.12.2025)
Thermal standardization on semiconductor packages - Part 3: Thermal circuit simulation models of discrete semiconductor packages for transient analysis
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ČSN EN IEC 63378-6 (01.09.2026)
Tepelná normalizace polovodičových pouzder - Část 6: Model tepelného odporu a kapacity pro předpověď přechodové teploty v místech spojení a měření. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
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ČSN EN IEC 63244-1 (01.05.2022)
Semiconductor devices - Semiconductor devices for wireless power transfer and charging - Part 1: General requirements and specifications
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ČSN 358785 (18.07.1975) Ungültige
Měření polovodičových součástek. Varikapy. Měření teplotního koeficientu kapacity.
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ČSN 358786 (25.04.1983) Ungültige
Varikapy. Metody měření elektrických parametrů.
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