ISO - Mezinárodní organizace pro standardizaci

Reaction-to-fire tests — Determination of fire and thermal parameters of materials, products and assemblies using an intermediate-scale calorimeter (ICAL)
(Essais de réaction au feu — Détermination, a l´aide d´un calorimetre a échelle intermédiaire (ICAL), des parametres thermiques et relatifs au feu des matériaux, produits et ouvrages)

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Reaction-to-fire tests — Guidance on the choice of substrates for building and transport products
(Essais de réaction au feu — Lignes directrices sur le choix de subjectiles pour les produits du bâtiment et du transport)

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Information technology - Open Systems Interconnection - Transport Fast Byte Protocol
(Technologies de l´information -- Interconnexion de systemes ouverts (OSI) -- Protocole de couche transport "Fast Byte")

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Information technology - Open Systems Interconnection - Network Fast Byte Protocol
(Technologies de l´information -- Interconnexion de systemes ouverts (OSI) -- Protocole de couche reseau "Fast Byte")

Dostupné jazyky: Anglicky, Francúzsky

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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Measurement of silicon oxide thickness
(Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Mesurage de l´épaisseur d´oxyde de silicium)

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Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Sample preparation for the determination of particle size distribution of ceramic powders
(Céramiques techniques — Préparation de l´échantillon pour la détermination de la répartition granulométrique des poudres céramiques)

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Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for flexural strength of monolithic ceramics at room temperature
(Céramiques techniques — Méthode d´essai de résistance en flexion des céramiques monolithiques a température ambiante)

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Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for hardness of monolithic ceramics at room temperature
(Céramiques techniques — Méthodes d’essai de dureté des céramiques monolithiques a température ambiante)

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Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
(Analyse chimique des surfaces — Détermination de la contamination en éléments a la surface des tranches de silicium par spectroscopie de fluorescence X a réflexion totale)

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Surface chemical analysis — Glow discharge optical emission spectrometry (GD-OES) — Introduction to use
(Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie d´émission optique a décharge luminescente — Introduction a son emploi)

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