Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktívna norma | Vydaná: 25.07.2014
ISO 14706:2014-ed.2.0
Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
(Analyse chimique des surfaces — Détermination de la contamination en éléments a la surface des tranches de silicium par spectroscopie de fluorescence X a réflexion totale)
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 175.70 EUR
zobraziť na eshopu
Podrobné informácie
Označenie: ISO 14706:2014-ed.2.0
Dátum vydania: 25.07.2014
Stránok: 25
Krajina: Medzinárodná technická norma
Kde kúpiť?
Môžete zakúpiť na eshop.normservis.skPopulárna vydavatelia
DIN normy
BS normy
ASTM normy
ISO normy
IEC normy
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
