Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS - Japonské technické normy
Stránka 330
JIS C5402-23-4:2006 (25.03.2006)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 23-4: Screening and filtering tests -- Test 23d: Transmission line reflections in the time domain
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS C5402-3-1:2005 (20.03.2005)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 3-1: Insulation tests -- Test 3a: Insulation resistance
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS C5402-4-1:2005 (20.12.2005)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-1: Voltage stress tests -- Test 4a: Voltage proof
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 1 800.00 EUR viac informácií
JIS C5402-4-2:2005 (20.03.2005)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-2: Voltage stress tests -- Test 4b: Partial discharge
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS C5402-4-3:2005 (20.03.2005)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-3: Voltage stress tests -- Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS C5402-5-1:2005 (20.03.2005)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-1: Current-carrying capacity tests -- Test 5a: Temperature rise
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS C5402-5-2:2005 (20.03.2005)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-2: Current-carrying capacity tests -- Test 5b: Current-temperature derating
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS C5402-6-1:2005 (20.03.2005)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-1: Dynamic stress tests -- Test 6a: Acceleration, steady state
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS C5402-6-2:2005 (20.03.2005)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-2: Dynamic stress tests -- Test 6b: Bump
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
JIS C5402-6-3:2005 (20.03.2005)
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-3: Dynamic stress tests -- Test 6c: Shock
Dostupné jazyky: Anglicky, Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 000.00 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
