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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 23-4: Screening and filtering tests -- Test 23d: Transmission line reflections in the time domain
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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 3-1: Insulation tests -- Test 3a: Insulation resistance
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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-1: Voltage stress tests -- Test 4a: Voltage proof
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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-2: Voltage stress tests -- Test 4b: Partial discharge
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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-3: Voltage stress tests -- Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels
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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-1: Current-carrying capacity tests -- Test 5a: Temperature rise
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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-2: Current-carrying capacity tests -- Test 5b: Current-temperature derating
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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-1: Dynamic stress tests -- Test 6a: Acceleration, steady state
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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-2: Dynamic stress tests -- Test 6b: Bump
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Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-3: Dynamic stress tests -- Test 6c: Shock
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