Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
JIS - Japonské technické normy
Stránka 655
JIS K0170-7:2019 (20.03.2019)
Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 7: Chromium (VI)
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 000.00 EUR viac informácií
JIS K0170-8:2019 (20.03.2019)
Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 8: Anionic surfactants
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0170-9:2019 (20.03.2019)
Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 9: Cyanide compounds
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 4 100.00 EUR viac informácií
JIS K0181:2021 (22.11.2021)
Surface chemical analysis -- Total reflection X-ray fluorescence analysis of water
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 600.00 EUR viac informácií
JIS K0182:2023 (20.04.2023)
Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of cantilever normal spring constants
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 3 600.00 EUR viac informácií
JIS K0183:2024 (21.10.2024)
Surface chemical analysis-Scanning probe microscopy-Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 7 200.00 EUR viac informácií
JIS K0189:2013 (22.07.2013)
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0190:2010 (20.04.2010)
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0199:2023 (20.01.2023)
Guideline for alignment procedure for identical location analysis between different microscopic measuring instruments
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 2 600.00 EUR viac informácií
JIS K0200:2024 (20.05.2024)
Common format for measurement and analysis data
Dostupné jazyky: Japonsky
Dostupné prevedenie: Elektronické PDF, Tlačené
od 6 300.00 EUR viac informácií
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
