JIS - Japanische technische Standards

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JIS K0170-7:2019 (20.3.2019)

JIS K0170-7:2019 (20.03.2019)

Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 7: Chromium (VI)

Verfügbare Sprachen: Japanisch

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ab 3 000.00 EUR weitere informationen
JIS K0170-8:2019 (20.3.2019)

JIS K0170-8:2019 (20.03.2019)

Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 8: Anionic surfactants

Verfügbare Sprachen: Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 2 600.00 EUR weitere informationen
JIS K0170-9:2019 (20.3.2019)

JIS K0170-9:2019 (20.03.2019)

Testing methods for water quality by flow analysis -- Part 9: Cyanide compounds

Verfügbare Sprachen: Japanisch

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ab 4 100.00 EUR weitere informationen
JIS K0181:2021 (22.11.2021)

JIS K0181:2021 (22.11.2021)

Surface chemical analysis -- Total reflection X-ray fluorescence analysis of water

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ab 3 600.00 EUR weitere informationen
JIS K0182:2023 (20.4.2023)

JIS K0182:2023 (20.04.2023)

Surface chemical analysis -- Scanning-probe microscopy -- Determination of cantilever normal spring constants

Verfügbare Sprachen: Japanisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 3 600.00 EUR weitere informationen
JIS K0183:2024 (21.10.2024)

JIS K0183:2024 (21.10.2024)

Surface chemical analysis-Scanning probe microscopy-Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method

Verfügbare Sprachen: Japanisch

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ab 7 200.00 EUR weitere informationen
JIS K0189:2013 (22.7.2013)

JIS K0189:2013 (22.07.2013)

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy

Verfügbare Sprachen: Japanisch

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ab 2 600.00 EUR weitere informationen
JIS K0190:2010 (20.4.2010)

JIS K0190:2010 (20.04.2010)

Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis -- Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

Verfügbare Sprachen: Japanisch

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ab 2 600.00 EUR weitere informationen
JIS K0199:2023 (20.1.2023)

JIS K0199:2023 (20.01.2023)

Guideline for alignment procedure for identical location analysis between different microscopic measuring instruments

Verfügbare Sprachen: Japanisch

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ab 2 600.00 EUR weitere informationen
JIS K0200:2024 (20.5.2024)

JIS K0200:2024 (20.05.2024)

Common format for measurement and analysis data

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ab 6 300.00 EUR weitere informationen
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