Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Stránka 48
Compliance test procedures for steady-state availability
Dostupné jazyky: Slovensky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Reliability growth - Statistical test and estimation methods
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Reliability growth - Stress testing for early failures in unique complex systems
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Reliability growth. Statistical tests and estimation methods
Dostupné prevedenie: Tlačené
Spare parts provisioning
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Electric components - Reliability - Reference conditions for failure rates and stress models for conversion
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 1: General
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms
Dostupné jazyky: Anglicky
Dostupné prevedenie: Tlačené
Electronic components. Reliability. Reference conditions for failure rates and stress models for conversion
Dostupné prevedenie: Tlačené