Neplatné | Vydaná: 01.05.2018

ASTM E2245-11(2018) Neplatné

Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer (Withdrawn 2023)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné prevedenie: Online zabezpečené PDF

od 111.70 EUR zobraziť na eshopu

Podrobné informácie

Označenie: ASTM E2245-11(2018)

Dátum vydania: 01.05.2018

Stránok: 25

Poznámka: Neplatné

Krajina: Americká technická norma

Kde kúpiť?

Môžete zakúpiť na eshop.normservis.sk

Anotácia

Keywords:
cantilevers, combined standard uncertainty, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, round robin, stiction, strain gradient, test structure,, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)

Populárna vydavatelia

celý katalóg