Neplatná | Vydána: 01.05.2018

ASTM E2245-11(2018) Neplatná

Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer (Withdrawn 2023)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 111.70 EUR zobrazit na eshopu

Podrobné informace

Označení: ASTM E2245-11(2018)

Datum vydání: 01.05.2018

Stran: 25

Poznámka: Neplatná

Země: Americká technická norma

Kde koupit?

Můžete zakoupit na eshop.normservis.cz

Anotace

Keywords:
cantilevers, combined standard uncertainty, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, round robin, stiction, strain gradient, test structure,, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)

Populární vydavatelé

celý katalog